Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée.

Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
ISTE Editions, 2, 290 p., 2016,Collection: Génie mécanique et mécanique des solides,Série: Fiabilité des systèmes multiphysiques, 978-1-78405-165-5. <http://iste-editions.fr>.